Národní úložiště šedé literatury Nalezeno 4 záznamů.  Hledání trvalo 0.00 vteřin. 
Využití optického odměřovacího systému Renishaw pro snímače a komparátory
Pavliš, Jakub ; Šrámek, Jan (oponent) ; Jankových, Róbert (vedoucí práce)
Diplomová práce se zabývá popisem vybraných optických systémů v metrologii délky. Hlavním přínosem práce je návrh a realizace snímače s optickým systémem VIONiCplus a návrh aplikace tohoto odměřovacího systému do délkových komparátorů. Práce obsahuje experimentální ověření využití optického systému VIONiCplus s rozlišením 2,5 nm pro snímače a délkové komparátory s doporučeními pro praktické použití.
Speciální snímače délky
Pavliš, Jakub ; Prostredník, Daniel (oponent) ; Jankových, Róbert (vedoucí práce)
Tato bakalářská práce obsahuje teoretický popis vybraných snímačů délky s důrazem na indukčnostní a optické snímače. Hlavním přínosem práce je návrh a realizace speciálního indukčnostního snímače s malou přítlačnou silou a optického snímače s rozlišením 2,5 nanometrů. V práci jsou analyzovány vybrané metrologické vlastnosti navržených snímačů a formulace doporučení pro jejich praktické využití.
Využití optického odměřovacího systému Renishaw pro snímače a komparátory
Pavliš, Jakub ; Šrámek, Jan (oponent) ; Jankových, Róbert (vedoucí práce)
Diplomová práce se zabývá popisem vybraných optických systémů v metrologii délky. Hlavním přínosem práce je návrh a realizace snímače s optickým systémem VIONiCplus a návrh aplikace tohoto odměřovacího systému do délkových komparátorů. Práce obsahuje experimentální ověření využití optického systému VIONiCplus s rozlišením 2,5 nm pro snímače a délkové komparátory s doporučeními pro praktické použití.
Speciální snímače délky
Pavliš, Jakub ; Prostredník, Daniel (oponent) ; Jankových, Róbert (vedoucí práce)
Tato bakalářská práce obsahuje teoretický popis vybraných snímačů délky s důrazem na indukčnostní a optické snímače. Hlavním přínosem práce je návrh a realizace speciálního indukčnostního snímače s malou přítlačnou silou a optického snímače s rozlišením 2,5 nanometrů. V práci jsou analyzovány vybrané metrologické vlastnosti navržených snímačů a formulace doporučení pro jejich praktické využití.

Chcete být upozorněni, pokud se objeví nové záznamy odpovídající tomuto dotazu?
Přihlásit se k odběru RSS.